FOM Technologies og Xenocs indgår strategisk partnerskab for at accelerere materiale innovation.

FOM Technologies er stolte af at kunne annoncere vores samarbejde med Xenocs, en global leder inden for avancerede røntgenkarakteriseringsteknologier. Dette strategiske partnerskab bringer to innovationsdrevne organisationer i spidsen for materialevidenskabelig forskning sammen.  

Xenocs SAS, med hovedkontor i Grenoble, Frankrig, leverer banebrydende løsninger til karakterisering på nanoskala niveau, hvilket giver forskere og ingeniører mulighed for at flytte grænserne for materialeudvikling. Med over 25 års erfaring er Xenocs internationalt anerkendt for sit arbejde inden for små- og vidvinkel røntgenspredningsteknikker (SAXS/WAXS) og røntgenbilleddannelsesteknikker, suppleret med avancerede softwareværktøjer og en exceptionel kundesupportstruktur. Deres teknologier bruges af førende akademiske og industrielle laboratorier verden over.

"Vi er begejstrede for samarbejdet med FOM Technologies og ser frem til i fællesskab at give vores kunder en platform til udvikling og in situ-karakterisering af materialer til energilagring, vedvarende energi og meget mere." - Peter Høghøj, administrerende direktør hos Xenocs SAS.

Gennem dette partnerskab vil FOM Technologies' FOM photonR2R, præcisions-slot-die-coater, integreres med Xenocs' avancerede røntgeninstrumentering for at muliggøre problemfri in situ-karakterisering af tyndfilm - et vigtigt skridt i optimeringen af ​​processer for batterier, solceller, membraner, trykt elektronik og mere. Sammen sigter vi mod at bygge bro mellem aflejring og analyse og give forskere mulighed for at få hurtigere indsigt i filmmorfologi, ensartethed og intern struktur under coatingprocessen.

Michael Stadi, Group CEO for FOM Technologies, udtaler: "Dette samarbejde er forankret i en fælles mission om at accelerere videnskabelig opdagelse. Kombinationen af ​​vores skalerbare belægningsløsninger med Xenocs' analytiske instrumenter i verdensklasse skaber nye muligheder for forskere til at karakterisere og forfine deres materialer i realtid, hvilket i sidste ende fremskynder innovationscyklussen".

Med begge virksomheders fortsatte ekspansion i Europa, Nordamerika og Asien, styrker dette samarbejde vores evne til at støtte forskere på tværs af geografiske områder og discipliner, ved at kunne tilbyde yderligere specialiserede løsninger. For FOM Technologies bistår samarbejdet med at tilføje et nyt applicationsområde med potentiel kommerciel afsætning.

Om Xenocs:

Xenocs leverer løsninger til nanoskalakarakterisering, hvilket giver forskere og ingeniører mulighed for at udvikle og producere avancerede materialer. Med 25 års ekspertise er Xenocs anerkendt for sin innovation inden for røntgenteknologi, den enestående ydeevne af sine instrumenter og software samt sit engagement i exceptionel kundeservice.

Læs mere på www.xenocs.com


---//---


KONTAKT INFORMATION:

Selskab:
FOM Technologies A/S
CEO Michael Stadi
Phone: +45 20 66 60 44
E-mail: ms@fomtechnologies.com
www.fomtechnologies.com

Certified Advisor:
Norden CEF A/S
John Norden
Phone: +45 20 72 02 00
E-mail: jn@nordencef.dk
www.nordencef.dk

Kommunikation:
Gullev & Co. ApS
Boris Gullev
Phone: +45 31 39 79 99
E-mail: borisgullev@gmail.com
www.gullev.co


---//---